粒(li)度是磨料(liao)微粉(fen)*重要的(de)(de)(de)技術指標(biao)之一。然(ran)而由于它(ta)的(de)(de)(de)抽象(xiang)性和實際(ji)測試存在的(de)(de)(de)困難(nan),許(xu)多(duo)用戶(hu)甚(shen)至部分制造商對(dui)“粒(li)度”的(de)(de)(de)理(li)解都(dou)比較(jiao)模糊,這實際(ji)上成了(le)我(wo)國磨料(liao)技術水平提(ti)高的(de)(de)(de)一大障(zhang)礙。為此對(dui)“粒(li)度”的(de)(de)(de)基本(ben)概念作一通俗介(jie)紹。
“粒度”是指一個粉體樣品(pin)顆粒大小(xiao)的(de)(de)(de)(de)總體描述。詳細的(de)(de)(de)(de)要用(yong)(yong)粒度分布(bu)來表示,在實用(yong)(yong)中(zhong)一般只取(qu)幾個關鍵參數,例如磨(mo)料(liao)JIS標準中(zhong)的(de)(de)(de)(de)D50、D94、D3。由(you)于實際的(de)(de)(de)(de)微粉顆粒是不規則的(de)(de)(de)(de),而且同(tong)一樣品(pin)中(zhong)各顆粒之(zhi)間也(ye)不一致,所謂顆粒的(de)(de)(de)(de)大小(xiao),用(yong)(yong)不同(tong)方法就會(hui)得出不同(tong)的(de)(de)(de)(de)結果。因(yin)此任何一個粉體產品(pin)的(de)(de)(de)(de)粒度標準,都必須(xu)注明所用(yong)(yong)測量儀(yi)器的(de)(de)(de)(de)原(yuan)理。有的(de)(de)(de)(de)標準允(yun)許用(yong)(yong)幾種原(yuan)理的(de)(de)(de)(de)儀(yi)器,這時標準數據也(ye)是不同(tong)的(de)(de)(de)(de)。下面對幾種國內常用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)中(zhong)國國家(W)標準和日本(ben)JIS標準作具體說(shuo)明。
國家標準:俗稱W標準,因在粒(li)度號前冠以字母W而得名,W是漢語(yu)“微粉”中“微”字的拼(pin)音(WEI)的字頭。實際(ji)上(shang)該標準已(yi)于1998年(nian)廢止,但現在還(huan)在技術(shu)設備(bei)比(bi)較(jiao)落后的磨(mo)料制造商和廣大用戶(hu)中流行。
W標準是建(jian)立在用顯(xian)微鏡刻度(du)尺測量(liang)顆(ke)粒大(da)小(xiao)的(de)方法上的(de)。這種方法規定(ding)用顆(ke)粒的(de)*大(da)寬度(du)代表顆(ke)粒的(de)大(da)小(xiao)。
該標準以大(da)致為公(gong)比(bi)對顆(ke)粒(li)(li)大(da)小(xiao)(又稱“粒(li)(li)徑(jing)”)分檔,例(li)如40、28、20、14、10等等(單位為“μm”),又把一(yi)個粉體樣品中的顆(ke)粒(li)(li)按上述(shu)分檔法為基本(ben)粒(li)(li)、混合粒(li)(li)、細粒(li)(li)、粗粒(li)(li)和*大(da)粒(li)(li)。以粒(li)(li)度W14為例(li)。
基本粒(li):10-14μm
混合粒(li): 7-14μm
細 粒(li): <7μm
粗 粒: 14-28μm
*粗粒: 28-40μm
基本粒是(shi)磨料中(zhong)*有用的(de)部(bu)分,希(xi)望比例越(yue)高越(yue)好,國(guo)標(biao)要(yao)求在50%以(yi)上(shang)。混合粒則占磨料的(de)主要(yao)部(bu)分,比例當(dang)然也(ye)是(shi)越(yue)高越(yue)好,國(guo)標(biao)要(yao)求在80%以(yi)上(shang)。
W 標準(zhun)粒徑的定義(yi)
日本(ben)標(biao)準推薦的(de)儀(yi)器有(you)兩(liang)種原理:一是(shi)電(dian)(dian)氣抵(di)抗法(fa)(fa)(即電(dian)(dian)阻法(fa)(fa)或稱(cheng)庫(ku)爾特法(fa)(fa)),二(er)是(shi)沉降(jiang)管(guan)法(fa)(fa)。兩(liang)種方(fang)法(fa)(fa)由(you)于原理不同,標(biao)準值(zhi)(zhi)也不同,例(li)如,JIS#1500,電(dian)(dian)阻法(fa)(fa)D50值(zhi)(zhi)為(wei)8.0±0.6μm,而沉降(jiang)管(guan)法(fa)(fa)的(de)D50為(wei)10.51μm。沉降(jiang)管(guan)法(fa)(fa)速度慢,人(ren)工參與多,實際上很(hen)少被采用。現在人(ren)們通常說的(de)JIS標(biao)準指(zhi)的(de)都(dou)是(shi)用電(dian)(dian)阻法(fa)(fa)的(de)。日本(ben)標(biao)準采用“*大粒(li)(li)(li)、D3、D50和(he)D94”等4個參數表述(shu)一個牌號微(wei)粉的(de)粒(li)(li)(li)度,這里,*大粒(li)(li)(li)的(de)概念是(shi)很(hen)清楚的(de),D3、D50和(he)D94則表示從*大粒(li)(li)(li)徑開始(shi)算到這些粒(li)(li)(li)徑值(zhi)(zhi)的(de)顆粒(li)(li)(li)(以重量(liang)計)含量(liang)分(fen)別(bie)為(wei)3%、50%和(he)94%。仍以JIS#1500為(wei)例(li):
*大粒 <23μm
D3 <20μm
D50 =8.0±0.6μm
D94 >4.5μm
JIS微粉粒度標準(zhun)圖示(shi)
D3=10.99μm D50=8.00μm D94=6.1μm
日(ri)本標(biao)準(zhun)與中國W標(biao)準(zhun)的主要區別有二(er)點:
其一,日本標(biao)準規定使(shi)用粒(li)度(du)儀器(電阻法或(huo)沉降管法)測量(liang)微粉的粒(li)度(du)(分布),而(er)中國W標(biao)準則(ze)用顯微鏡目視(shi)法測量(liang)顆粒(li)大小(xiao),后者(zhe)精度(du)較低,受人為(wei)因素(su)影響(xiang)大。
其二,日本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)對(dui)粒度號(hao)的區分(fen)比較細(xi),從#240(D50=57μm)到(dao)#8000 (D50 = 1.2μm)共分(fen)18個號(hao),而中國(guo)W標(biao)(biao)準(zhun)從W63(D50≈50μm)到(dao)W3.5(D50≈2.5μm)共分(fen)10個號(hao),前者差不多(duo)比后者多(duo)一倍,因此有人(ren)說按W標(biao)(biao)準(zhun)一個粒度號(hao)的微粉,按日本(ben)標(biao)(biao)準(zhun)可(ke)以(yi)分(fen)成兩個粒度號(hao)。
以上兩點就(jiu)是人們認為(wei)日本(ben)標準的微粉粒度較集中的原因。
找W標準(zhun)的粒度號(hao)與JIS標準(zhun)的對應(ying)關系時,大體上只要將“W”后(hou)的數字(zi)乘以0.7作為(wei)D50值,再在JIS粒度表中(zhong)找D50值*相近的粒度號(hao)就(jiu)可(ke)。例(li)如W10的D50約為(wei)7μm,相當于JIS#1500(D50μm)。