白剛玉(yu)的粒徑分(fen)析方法概述
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一(yi)、篩分法。
優點:簡單、直觀、設備造價低,常用于大于40um的樣品。
缺點:結果受人為因素和篩孔變形影響(xiang)較大。
二、顯微鏡(jing)(圖像(xiang))法(fa)。
優(you)點(dian):簡(jian)單(dan)、直觀,可進行形(xing)貌分析,適合分布窄(*大和*小粒徑的(de)比值小于10:1)的(de)樣品。
缺(que)點:代表性差,分(fen)析分(fen)布范圍寬的樣(yang)品比較麻(ma)煩,無法分(fen)析小于1um的樣(yang)品。
三、沉(chen)降法(包括重力沉(chen)降和李新沉(chen)降)。
優點:操作漸變,儀器可(ke)以連續運(yun)行,價格低,準確性和重復性較好(hao),測試范(fan)圍較廣。
缺點(dian):測試時間較長,操作比較繁瑣(suo)。
四、電阻法。
優點:操(cao)作漸變可(ke)測(ce)顆粒數,等效概念明確,速度快,準確性好。
缺點(dian):不適合測量小于0.1um的顆粒樣品,對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。
五(wu)、激光法(fa)。
優點:操作簡便,測試(shi)速(su)度快,測試(shi)范(fan)圍廣(guang),重復性和(he)準(zhun)確性好,可進(jin)行在線測量(liang)和(he)干法測量(liang)。缺點:結果受分(fen)布模型影響較大,儀器造價較高,分(fen)辨力(li)低。
六、電(dian)子顯(xian)微鏡(jing)法(fa)。
優點:適合測試超(chao)新顆(ke)粒甚至納米(mi)顆(ke)粒,分辨力高,可進行(xing)形貌和結(jie)構分析,
缺點:樣品少,代表(biao)性(xing)差,測量(liang)易受(shou)人為因素影響,儀(yi)器價格昂貴。
七、光阻法。
優點(dian):測(ce)試便捷(jie)快速(su),可測(ce)液體(ti)或(huo)氣體(ti)中顆粒數,分辨力高(gao)。
缺點:不(bu)適(shi)(shi)用(yong)粒徑小于1umde樣品,進(jin)行系(xi)統比較講(jiang)究,僅適(shi)(shi)合(he)對(dui)塵埃(ai)、污(wu)染物或已稀釋好的**進(jin)行測量,對(dui)一(yi)般粉(fen)體用(yong)的不(bu)多。
八、透(tou)氣法。
優點:儀器價格低。不用對樣品(pin)進行分(fen)散(san),可測測性材料粉體。
缺(que)點:只能得(de)到平均粒度(du)(du)值(zhi),不能測粒度(du)(du)分(fen)布;不能測小于(yu)5um細粉。
九、X射(she)線小角散射(she)法。
用于納米級顆粒的(de)粒度測量(liang)。
十、光子相關譜法(動態光散射法)。
用(yong)于納米級(ji)顆粒(li)的粒(li)度測量。